鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強(qiáng)度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會對樣品造成損壞。同時，測量可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。

　　鍍層測厚儀在測量時偶爾會示值不準(zhǔn)，那么下面幾個問題對測量結(jié)果有影響作用，我們來看看如何應(yīng)對：

　　1、表面粗糙度和表面清潔度

　　在粗糙度表面上為獲得一個有代表性的平均測量值必須進(jìn)行多次測量才行。顯而易見，不論是基體或是覆層，越粗糙，測量值越不可靠。本儀器為獲得可靠的數(shù)據(jù)，基體的平均粗糙度應(yīng)小于覆層厚度的5％。而對于表面雜質(zhì)，則應(yīng)予去除。有的儀表上下限，以剔除那些“飛點”。

　　2、覆層材料中的鐵磁成份和導(dǎo)電成份

　　覆層中存在某些鐵磁成分，如某種顏料時，會對測量值產(chǎn)生影響，在這種情況下，對用作校準(zhǔn)的對比試樣覆層應(yīng)具有與被測物覆層相同的電磁特性，經(jīng)校準(zhǔn)后使用。使用的方法可以是將同樣的覆層涂在鋁或銅板試樣上，用電渦流法測試后獲得對比標(biāo)準(zhǔn)。

　　3、探頭測量板的作用力

　　儀器探頭測量時的作用力應(yīng)是恒定的。并應(yīng)盡可能小。才不致使軟的覆層發(fā)生形變，以致測量值下降。活產(chǎn)生大的波動，必要時，可在兩者之間墊一層硬的，不導(dǎo)電的，具有一定厚度的硬性薄膜。這樣通過減去薄膜厚度就能適當(dāng)?shù)氐玫绞４拧?/div>